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熒光光譜儀技術規格說明書是由湖北高天提供，改設備能量色散X熒光光譜儀，簡稱XRF，是一種物理的元素分析方法，具有快速、無損、多種元素同時分析、分析成本低等特殊技術優勢，在子、器、珠寶、玩具、服裝、皮革、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫藥等行業廣泛應用。
GT-XRF-W7 熒光光譜儀技術規格說明書 | ||
| 儀器測試范圍： | 從硫(liu)S-鈾U之間的(de)元素（包含RoHS和(he)重金屬元素 ） RoHS限定有害(hai)元素Pb/Hg/Cd/Cr/Br + 鹵(lu)素Cl和Br 合金(jin)：銅材，鐵合金(jin)，鎳合金(jin)，錫合金(jin)，鈦合金(jin)，貴金(jin)屬 鍍層(ceng)：Ag/Sn/Au/Ni—Cu，Cr/Zn/Ni/Ag/—Fe |
2. | 樣品種類： | 固體、液體、粉(fen)末； |
3. | ?????低(di)檢出限(xian)： | RoHS：Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm 、Pb≤5ppm、Cl≤60ppm 成分分析：0.01%--99.99% |
4. | 測試時間： | 60s-200s(軟件自動調整) |
5. | 工作環(huan)境(jing)溫度： | 溫度 :15-30℃ ；濕度：≤75% （不結露） |
6. | 輸(shu)入(ru)源(yuan)： | AC 220V±15%，50Hz |
7. | 高壓保護措施 | 過壓自保護，自恢復 |
8. | 儀器尺寸： | 650mm*450mm*350mm |
9. | 測試樣品腔尺寸： | 280mm*280mm*200mm |
10. | 輻射(she)防護標(biao)準： | 遠高于國標(biao)(biao)GB18871-2002 GBZ115-2002標(biao)(biao)準 |
